【招标公告】原位电化学界面分析系统设备采购（HITJJ-2023000083）采购公告

项目名称：原位电化学界面分析系统设备采购
项目编号：HITJJ-2023000083
公告开始日期：
公告截止日期：
采购单位：哈尔滨工业大学
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签约时间要求：
到货时间要求：
预算总价：***
收货地址：
供应商资质要求：符合《政府采购法》第二十二条规定的供应商基本条件 公司注册资本大于等于50万，上传营业执照 (必选)

采购商品:原位电化学界面分析系统
采购数量:1
计量单位:台
预算单价:***
技术参数及配置要求:1.1.1 具备完整的形貌学、电学、力学等测量功能； 1.1.2 具备稳定的原子级、分子级分辨能力; 2 项目清单 3 项目要求： 本项目允许采购进口产品。 3.1 技术要求 3.1.1 设备总体要求及工作条件 3.1.1.1 设备必须具有技术成熟、结构合理、操作界面友好、易操作、安全可靠、便于维护及美观； 3.1.1.2 设备应具备功能扩展和软件升级功能； 3.1.1.3 设备兼容千级及更高级别超净间； 3.1.1.4 投标人须提供设备外形尺寸、占地面积、安装条件等指标； 3.1.1.5 电源适用于中国制式，两相或三相，频率50/60Hz下工作。 3.1.2 设备总体配置 3.1.2.1 扫描探针显微镜主机 1台； 3.1.2.2 高分辨成像专用AFM测试头 1套； 3.1.2.3 高速闭环平板扫描器 1套； 3.1.2.4 自动XY平台 1套； 3.1.2.5 全自动反馈激光--探测准直器 1套； 3.1.2.6 ≥1300nm近红外AFM反馈激光器 1套； 3.1.2.7 XYZ步进马达（自动样品台）1套 3.1.2.8 彩色摄像头 1套； 3.1.2.9 多模式AFM针尖包 1套； 3.1.2.10 仪器控制与软件系统（计算机） 1套； 3.1.2.11 仪器专用工具包 1套。 3.2 仪器技术参数 3.2.1.1 modulation mode） 3.2.1.2 抬高模式（Two-pass scan） 3.2.1.3 纳米刻蚀 (Nanolithography) 3.2.1.4 纳米操纵 (Nanomanipulation) 3.2.2 高精度测量头 3.2.2.1 ★系统噪声：≤0.03nm RMS 3.2.2.2 ★反馈激光≥1300nm。独立AFM反馈激光光路，反馈激光不允许穿过任何其它光谱激发物镜。允许可见及近红外区域的拉曼，荧光或近场成像测量 3.2.2.3 ★软件操作“反馈激光—悬臂梁”快速全自动准直，无需手动调整 3.2.2.4 ★更换探针操作简单，无需从系统上移除AFM测量头，无需移动样品 3.2.2.5 可以配备NA值为0.28/0.42物镜，耦合共聚焦拉曼光谱仪，实现AFM-Raman同区域测量和针尖增强拉曼信号采集 3.2.2.6 可以兼容液体环境成像功能； 3.2.3 多模式针尖包 3.2.3.1 非接触和轻敲模式探针，悬臂背面镀有反射层 15根； 3.2.3.2 AFM探针用于开尔文，导电AFM，静电力，有镀层 15根； 3.2.3.3 磁力显微镜探针 15根。 二、售后服务： 1．整机保修期一年（不包括易耗品），在保修期内，任何由制造商选材和制造不当引起的质量问题，厂家负责免费维修。保修期后，厂家提供终身维修，并保证零配件的供应。 2．安装、培训：厂家将负责在用户单位安装与调试，并进行操作演示、数据处理等培训。 ★三，供应商需提供制造商授权书 四 ★条款必须满足，否则报价无效。